多項(xiàng)選擇題為了考察某種類(lèi)型的電子元件的使用壽命情況，假定該電子元件使用壽命的分布是正態(tài)分布。而且根據(jù)歷史記錄得知該分布的參數(shù)為：平均使用壽命μ0為100小時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)差σ為10小時(shí)?，F(xiàn)在隨機(jī)抽取100個(gè)該類(lèi)型的電子元件，測(cè)得平均壽命為102小時(shí)，給定顯著性水平α=0.05，為了判斷該電子元件的使用壽命是否有明顯的提高，下列說(shuō)法正確的有（）。

A.提出假設(shè)H0：μ≤100；H1：μ＞100
B.提出假設(shè)H0：μ≥100；H1：μ＜100
C.檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量及所服從的概率分布為
D.如果Z＞Zα，則稱(chēng)與μ0的差異是顯著的，這時(shí)拒絕H0
E.檢驗(yàn)結(jié)果認(rèn)為該類(lèi)型的電子元件的使用壽命確實(shí)有顯著提高


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2.多項(xiàng)選擇題設(shè)總體為正態(tài)總體，總體方差未知，在小樣本條件下，對(duì)總體均值進(jìn)行如下的假設(shè)檢驗(yàn)H0：μ=μ0，（μ0為已知數(shù)）；Hl：μ≠μ0，α=0.1。則下列說(shuō)法正確的有（）。

A.（-∞，-z0.10）和（z0.10，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.（-∞，-z0.05）和（z0.05，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.（-∞，-t0.10）和（t0.10，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.（-∞，-t0.05）和（t0.05，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的絕對(duì)值越大，則原假設(shè)越容易被拒絕

3.多項(xiàng)選擇題在大樣本的情況下，檢驗(yàn)H0：μ=μo，H1：μ＞μo，則（）成立時(shí)，可接受原假設(shè)。

A.實(shí)測(cè)顯著性水平P值＜顯著性水平α
B.P值＞α
C.Z＜Z0
D.Z＞Z0
E.Z＞Zα/2

4.多項(xiàng)選擇題下面關(guān)于單側(cè)和雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)的說(shuō)法正確的有（）。

A.在顯著性α水平下，檢驗(yàn)假設(shè)H0：μ=μ0；H1：μ≠μ0的假設(shè)檢驗(yàn)，稱(chēng)為雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)
B.右側(cè)檢驗(yàn)和左側(cè)檢驗(yàn)統(tǒng)稱(chēng)為單側(cè)檢驗(yàn)
C.在顯著性α水平下，檢驗(yàn)假設(shè)H0：μ≥μ0；H1：μ＜μ0的假設(shè)檢驗(yàn)，稱(chēng)為左側(cè)檢驗(yàn)
D.在顯著性α水平下，檢驗(yàn)假設(shè)H0：μ≥μ0；H1：μ＜μ0的假設(shè)檢驗(yàn)，稱(chēng)為右側(cè)檢驗(yàn)
E.在顯著性α水平下，檢驗(yàn)假設(shè)H0：μ≤μ0；H1：μ＞μ0的假設(shè)檢驗(yàn)，稱(chēng)為右側(cè)檢驗(yàn)

5.單項(xiàng)選擇題在假設(shè)檢驗(yàn)中，顯著性水平α是（）。

A.原假設(shè)為真時(shí)被拒絕的概率
B.原假設(shè)為真時(shí)被接受的概率
C.原假設(shè)為偽時(shí)被拒絕的概率
D.原假設(shè)為偽時(shí)被接受的概率