A.功能錯(cuò)誤
B.代碼路徑中的錯(cuò)誤
C.邏輯錯(cuò)誤
D.死循環(huán)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.弱覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.全覆蓋
A.文檔覆蓋
B.路徑覆蓋
C.靜態(tài)覆蓋
D.判定覆蓋
A.代碼走查
B.插樁
C.等價(jià)類(lèi)劃分
D.邏輯驅(qū)動(dòng)
A.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)上層模塊采取自頂向下測(cè)試，使之能較早地顯示系統(tǒng)的總體輪廓。
B.混合的漸增式測(cè)試在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用較少。
C.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)某些關(guān)鍵模塊或子系統(tǒng)采用由底向上組裝和測(cè)試的方法。
D.混合的漸增式測(cè)試是自頂向下的漸增式測(cè)試和自底向上的漸增式測(cè)試的合并。
A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
最新試題
下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
增量模型適合適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的項(xiàng)目。
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
使用QTP軟件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，下面對(duì)其中應(yīng)用描述錯(cuò)誤的是（）
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無(wú)法比。
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類(lèi)方法。
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。