A.設(shè)置的增益過(guò)低
B.設(shè)置的增益過(guò)高
C.A掃描參數(shù)設(shè)置出錯(cuò)
D.PCS計(jì)算出錯(cuò)
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A.校準(zhǔn)試塊厚度和材質(zhì)應(yīng)與被檢測(cè)工件相同或相近
B.窄槽應(yīng)在開(kāi)試塊的1/4厚度處和3/4厚度處
C.應(yīng)采集在上表面開(kāi)口的窄槽的下端點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)
D.以上都對(duì)
A.69mm
B.138mm
C.92.35mm
D.112mm
A.選擇較大的PCS有利于提高分辨力
B.選擇較大的PCS有利于提高信噪比
C.選擇較大的PCS有利于獲得較大的覆蓋范圍
D.選擇較大的PCS有利于減小盲區(qū)
A.70°探頭分辨力更高一些
B.70°探頭信噪比更高一些
C.70°探頭波束覆蓋范圍更大一些
D.70°探頭近表面盲區(qū)更小一些
A.提高分辨力,所以應(yīng)選擇高頻率和小直徑探頭
B.提高信噪比,所以應(yīng)選擇低頻率和大直徑探頭
C.提高波束強(qiáng)度,所以應(yīng)選擇高頻率和大直徑探頭
D.提高波束的覆蓋范圍,所以應(yīng)選擇低頻率和小直徑探頭
最新試題
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
通常所謂20KV的X射線是指()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
探頭的分辨力()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。