A.為減小測量缺陷信號與測量誤差，必須仔細測量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測量缺陷信號與直通波到達時間之差，則耦合劑引起的缺陷深度測量誤差很小
C.如果測量缺陷信號到達的絕對時間，則耦合劑引起的測量誤差很小
D.以上敘述都是錯誤的
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A.用高精度的長度尺反復(fù)測量
B.用專用的激光測距儀反復(fù)測量
C.測量標準試塊上不同深度反射體的信號到達時間
D.測量直通波或者底面波信號尖端信號到達的時間
A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
A.嚴重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小，隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大，隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小，隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大，隨探頭脈沖寬度減小而增大
最新試題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述，不正確的一項是（）
發(fā)生康普頓散射的條件是（）
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）
調(diào)節(jié)掃描速度時，應(yīng)使（）同時對準相應(yīng)的水平刻度值。
射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。