A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
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A.經工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測形狀復雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡便,適用于局部或現(xiàn)場檢測
B.聲能損失較少,可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下,可提供更高的檢測靈敏度
D.以上都是
A.檢測大厚度零件,選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測小厚度零件,選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測晶粒粗大零件,選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測能力
D.以上都正確
A.受檢件的熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、可能的加工余量;
B.受檢件的材料牌號、制造工藝、尺寸;
C.受檢件受力方向、影響使用性能的缺陷種類及形成原因;
D.受檢件材料及形狀、缺陷位置及取向、驗收要求。
A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
D.以上都可以
最新試題
測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質衰減不同時,需要進行傳輸修正。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。