A.每秒寫入磁盤的頁數(shù)
B.磁盤的大小
C.磁盤的數(shù)據(jù)塊使用情況
D.磁盤的熱點(diǎn)區(qū)域
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.性能測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.黑盒測(cè)試
D.白盒測(cè)試
A.能力驗(yàn)證
B.能力規(guī)劃
C.能力設(shè)計(jì)
D.缺陷修復(fù)
A.應(yīng)測(cè)試最低配置下的性能
B.應(yīng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)配置下的性能
C.需記錄多用戶并發(fā)工作的情況
D.需測(cè)試人員拿著表去記錄相關(guān)時(shí)間
A.盡量對(duì)程序的內(nèi)、外部特性都進(jìn)行測(cè)試
B.盡量對(duì)所有的功能進(jìn)行測(cè)試
C.盡量對(duì)所有的路徑進(jìn)行檢測(cè)
D.盡量發(fā)現(xiàn)更多的程序錯(cuò)誤
A.程序控制流圖
B.環(huán)境復(fù)雜性圖
C.因果圖
D.圖形矩陣
最新試題
下面關(guān)于判定表規(guī)則及規(guī)則合并描述錯(cuò)誤的是()
以下哪項(xiàng)測(cè)試是將所有單元組裝成模塊,測(cè)試各部分工作是否達(dá)到相應(yīng)技術(shù)指標(biāo)級(jí)的活動(dòng)()
編寫功能需求規(guī)格說明時(shí)不需要描述的是()
以下屬于白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試共同點(diǎn)的是()
對(duì)于軟件開發(fā)者而言軟件測(cè)試是為了()
在白盒測(cè)試法中,應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次()
TestManager使用時(shí)首先需要()
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說法錯(cuò)誤的是()
下面關(guān)于邊界值測(cè)試說法錯(cuò)誤的是()
下面哪項(xiàng)不屬于系統(tǒng)測(cè)試的主要目標(biāo)()