A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都必須去除
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A.波峰尖銳、前沿陡峭、波峰起伏變化快
B.波較寬、波尖多峰、伴隨雜波、起伏平緩
C.波幅較高、波峰起伏變化快
D.以上都可能
A.能夠清晰分辨孔壁信號和起始于孔壁的小裂紋信號
B.能夠獲得準確的裂紋位置和尺寸
C.能夠很容易在試塊上找出裂紋信號
D.以上都是
A.盡可能提高儀器增益;
B.利用被檢件的底面回波
C.利用被檢件的側(cè)壁回波;
D.利用被檢件的孔壁回波。
A.掃查區(qū)域有過多的耦合劑;
B.斜楔磨損;
C.探頭掃查位置或方向偏移;
D.以上都有可能。
A.避免漏掉任何顯示信號;
B.避免漏掉報警閘門范圍內(nèi)的任何顯示信號;
C.避免漏掉觸發(fā)報警的任何顯示信號;
D.更合理的確定靈敏度水平。
最新試題
儀器水平線性影響()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的聲程位置。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。