圖是測(cè)試橫波探頭示意圖，根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目（）
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
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圖是橫波檢測(cè)示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β，則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算（）
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中缺陷位置對(duì)應(yīng)的聲束是 （）
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中缺陷位置在哪個(gè)跨距內(nèi)（）
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中，哪個(gè)表示2.0跨距（）
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中，哪個(gè)表示1.5跨距（）
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。