問答題試為下述分析工作選擇你認(rèn)為恰當(dāng)?shù)模ㄒ环N或幾種)分析方法某半導(dǎo)體的表面能帶結(jié)構(gòu)測定。
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根據(jù)衍襯運(yùn)動學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
題型:多項(xiàng)選擇題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型:判斷題
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
題型:單項(xiàng)選擇題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型:判斷題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時,產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
題型:判斷題
在電子探針中,測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
題型:判斷題