判斷題顯影不足或過(guò)度,會(huì)影響底片對(duì)比度,但不會(huì)影響顆粒度。
您可能感興趣的試卷
最新試題
RT檢測(cè)中,控制散射線的方法是采用哪種手段()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
發(fā)生X或Υ射線人身傷害事故后,首先應(yīng)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在同樣的X射線管電流下,管電壓增加,則()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
合格的底片應(yīng)至少滿足以下哪些質(zhì)量要求()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題