判斷題靈敏度試片可用于測量磁粉探傷裝置的性能和磁粉性能。
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表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）
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關(guān)于近場長度的說法，正確的是（）
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下列關(guān)于IIW試塊的說法，正確的是（）
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直射法探傷時試件的探測面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）
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關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場長度）。
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與直探頭相比，雙晶探頭（）
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