A.可用于校正干擾值
B.常用來估計(jì)測(cè)量誤差
C.對(duì)確定的響應(yīng)離子i和干擾離子j,它是一個(gè)常數(shù)
D.可通過實(shí)驗(yàn)測(cè)定
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A.降低檢測(cè)限
B.擴(kuò)大線性范圍
C.可不加總離子強(qiáng)度調(diào)節(jié)緩沖液
D.提高測(cè)定準(zhǔn)確度
A.玻璃膜外水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
B.玻璃膜內(nèi)側(cè)水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
C.跨越玻璃膜兩側(cè)溶液之間的電位差
D.玻璃電極的電位
A.測(cè)NA+時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差”
B.測(cè)OH-時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差“
C.測(cè)定pH高時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)定pH低時(shí),產(chǎn)生“酸差
D.測(cè)pOH時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)pH時(shí),產(chǎn)生“酸差”
A.會(huì)產(chǎn)生鈉差
B.產(chǎn)生酸誤差
C.測(cè)得的pH值偏低
D.測(cè)得的pH值偏高
A.對(duì)特定離子呈Nernst響應(yīng)的敏感膜
B.內(nèi)參比電極
C.內(nèi)參比溶液
D.電極桿
最新試題
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
判定原子吸收光譜測(cè)量元素準(zhǔn)確度,必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定值。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。
空氣-Ar-ICP的缺點(diǎn)是()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來檢測(cè)。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。