A.0.15-0.18V
B.0.1-0.2V
C.0.3-0.4V
D.0.5-0.8V
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A.可逆電極電勢(shì)加上過(guò)電位
B.可逆電池電動(dòng)勢(shì)
C.可逆電極電勢(shì)
D.電極上有明顯并連續(xù)的物質(zhì)析出時(shí)的最小外加電壓
A.可逆電極電勢(shì)加上過(guò)電位
B.可逆電池電動(dòng)勢(shì)
C.可逆電極電勢(shì)
D.電極上有明顯并連續(xù)的物質(zhì)析出時(shí)的外加電壓
A.高含量的物質(zhì)
B.常量物質(zhì)
C.不需要基準(zhǔn)物質(zhì)和標(biāo)準(zhǔn)樣品
D.需要基準(zhǔn)物質(zhì)和需要標(biāo)準(zhǔn)樣品
A.高含量的物質(zhì)
B.痕量物質(zhì)
C.需要基準(zhǔn)物質(zhì)
D.需要標(biāo)準(zhǔn)樣品
A.外加電壓
B.可逆電池電動(dòng)勢(shì)
C.實(shí)際分解電壓
D.可逆電池電動(dòng)勢(shì)加上過(guò)電位η
最新試題
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來(lái)檢測(cè)。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。
ICP光譜干擾包括()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型,它們分別是()。
原子吸收光譜儀在使用氧化亞氮火焰時(shí),儀器應(yīng)具備防回火功能。