A.使其電極電位隨外加電壓而變
B.降低溶液iR降
C.產(chǎn)生完全濃差極化
D.使其電極電位不隨外加電壓而變
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A.使其電極電位隨外加電壓而變
B.降低溶液iR降
C.產(chǎn)生完全濃差極化
D.使其電極電位不隨外加電壓而變
A.電流對(duì)濃度
B.電流對(duì)電壓
C.電流對(duì)體積
D.電壓對(duì)濃度
A.電解電流
B.擴(kuò)散電流
C.極限電流
D.充電電流
A.殘余電流和擴(kuò)散電流
B.殘余電流.遷移電流和擴(kuò)散電流
C.遷移電流和擴(kuò)散電流
D.殘余電流和遷移電流
A.擴(kuò)散系數(shù)D
B.汞滴流速m
C.滴汞周期t
D.半波電位E1/2
最新試題
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過(guò),它們分別是()。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。