最新試題
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型:判斷題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型:判斷題
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型:判斷題
X射線衍射儀中,通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為()。
題型:單項選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型:判斷題
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
題型:判斷題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
題型:多項選擇題
拉曼光譜分析儀在使用過程中,正確的實驗操作有()。
題型:多項選擇題
變形振動分為()。
題型:多項選擇題