A.SBT
B.CBL
C.CBL/VDL
D.PND
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A.環(huán)境因素
B.測(cè)井深度
C.儀器類型
D.操作方式
A.井眼條件
B.圍巖
C.儀器刻度的不精確性
D.泥漿密度
A.儀器的類型不同
B.不統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)刻度器
C.操作方式不一樣
D.儀器測(cè)量的地層不同
A.環(huán)境較正
B.標(biāo)準(zhǔn)化處理
C.擴(kuò)徑校正
D.圍巖校正
A.同一地區(qū)的相同層位
B.不同地區(qū)的不同層位
C.同一地區(qū)的不同層位
D.不同地區(qū)的相同層位
最新試題
平移斷層斷層面一般較陡,可以是平直的,也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上()。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。
微電阻率成像三井徑曲線變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。
當(dāng)偶極子聲源在井內(nèi)振動(dòng)時(shí),井壁附近產(chǎn)生撓曲波,它是一種()。
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性,觀測(cè)地層流體中的()。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
在()的概念中,沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是:沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素,沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。