問(wèn)答題自頂而下漸增測(cè)試與自底而上漸增測(cè)試各有何優(yōu)、缺點(diǎn)？

參考答案： （1）自頂而下漸增測(cè)試優(yōu)點(diǎn)：不需要測(cè)試驅(qū)動(dòng)程序，能夠在測(cè)試階段的早期實(shí)現(xiàn)并驗(yàn)證系統(tǒng)的主要功能，而且能夠盡早發(fā)現(xiàn)上層模塊的...