最新試題
X射線衍射儀中,通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為()。
題型:單項選擇題
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型:判斷題
在體心點陣中,當(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時,產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
題型:判斷題
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
題型:單項選擇題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
題型:多項選擇題
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
題型:判斷題
()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
題型:單項選擇題
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型:判斷題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型:判斷題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實現(xiàn)的。
題型:單項選擇題