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你可能感興趣的試題
A.符合事件指的是同時發(fā)生的兩個或多個事件
B.同時發(fā)生的兩個事件若沒有因果關(guān)系，不能算符合
C.同時指的是同一時刻，而不是一個時間段內(nèi)，所以實(shí)際中的符合非常少見
D.符合可以用在粒子甄別上，但是反符合不行
A.是（γ，n）型中子源
B.中子能量連續(xù)分布
C.半衰期不長，一般能連續(xù)使用1個月左右就需要更換
D.中子源的半衰期只有15小時
A.這兩個或多個事件的發(fā)生是完全相關(guān)的
B.符合分辨時間是為方便電子學(xué)實(shí)現(xiàn)而引入的，真符合的事件必定發(fā)生在同一時刻
C.真符合中的兩個事件發(fā)生的時刻可以是近似同時
D.符合電路利用“與”門來實(shí)現(xiàn)
A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點(diǎn)源處理
A.252Cf是常見的自發(fā)裂變中子源
B.不會有γ射線產(chǎn)生
C.中子產(chǎn)額非常低，需要較大體積的源
D.半衰期較長，使用數(shù)年源的性能也不會有明顯降低
A.總截面等于各個分截面之和
B.彈性散射截面遠(yuǎn)大于吸收截面
C.非彈性散射在低能時最大，是主要的反應(yīng)形式
D.低能端的吸收截面隨能量增加而降低
A.熱中子
B.冷中子
C.甚冷中子
D.超冷中子
A.需要先產(chǎn)生帶電粒子再測量
B.中子不能直接引起探測介質(zhì)的電離、激發(fā)
C.中子對某幾種元素很敏感
D.中子探測器需要輻射體
A.偶然符合在低計數(shù)率情況下更常見
B.偶然符合的事件同時發(fā)生且相關(guān)
C.偶然的情況下同時到達(dá)符合電路的非關(guān)聯(lián)事件引起的符合
D.不相關(guān)的事件都可以認(rèn)為屬于偶然符合
A.符合測量對真偶符合比沒有要求
B.為保證高的真偶符合比，電子學(xué)分辨時間小一些好
C.真偶符合比必定是大于1的
D.其他條件不變，源的活度越大則真偶符合比越大
最新試題
測量能量10keV的γ射線，觀察到了在20keV處有一個明顯的峰，對于這些計數(shù)的分析正確的是（）。
測量厚樣品α源，下列說法正確的是（）。
下列對于常用的中子探測器的描述不正確的是（）。
軔致輻射對γ能譜的影響，描述錯誤的是（）。
測量活度有相對法與絕對法，下列描述錯誤的是（）。
下列對中子與原子核的反應(yīng)截面的描述不正確的是（）。
下列哪項(xiàng)不屬于中子探測方法？（）
下列對中子慢化的描述正確的是（）。
測量β射線的活度，下列說法錯誤的是（）。
關(guān)于加速器中子源，描述錯誤的是（）。