A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素
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A.質(zhì)子、電子、光子
B.質(zhì)子、重子、電子
C.光子、電子、X射線
D.質(zhì)子、中子、電子
A.標(biāo)識(shí)X射線
C.用來(lái)產(chǎn)生高對(duì)比度的窄束射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
D.由單一波長(zhǎng)的電磁波組成的射線
A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素;
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素。
A.電荷
B.質(zhì)量
C.自旋
D.半衰期
最新試題
提高射線照相對(duì)比度,會(huì)產(chǎn)生的不利后果有()
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對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
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