A.B級高于A級
B.A級高于B級
C.A級等于B級
D.以上都不對
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A.信噪比低
B.增大端部不可探區(qū)
C.周向靈敏度不均
D.易磨損探頭
下圖為試件電導率變化引起線圈阻抗變化的軌跡，比較圖中A、B兩點的電導率應為（）。
A.σA=σB
B.σA<σB
C.σA>σB
D.無關系
A.增加
B.減半
C.減小3/4
D.增加3倍
A.缺陷
B.電導率
C.尺寸
D.以上三項都可以
A.檢測頻率降低
B.線圈電感降低
C.線圈電阻降低
D.上述三項都對
最新試題
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時，不同K值探頭檢測同一根部缺陷，其回波高相差不大。
對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側圓柱面波形轉換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進行適當?shù)难a償，會使定量誤差增加，精度下降。
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
檢測曲面工件時，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
為了減少側壁的影響，必要時可采用試塊比較法進行定量，以便提高定量精度。
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。