判斷題地形圖的比例尺大,精度就越好;比例尺小,精度就越差。
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設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m,B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀,儀器高為1.43m,平距DAB=341.23m,觀測A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″,則由此算得B點(diǎn)的高程為()
題型:單項選擇題
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
題型:單項選擇題
利用偽距作空間交會來定位點(diǎn)位的方法稱為()
題型:單項選擇題
()常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。
題型:單項選擇題
監(jiān)測基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗方法有采用最小二乘平差的檢驗方法、()、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計檢驗相結(jié)合的方法。
題型:單項選擇題
度盤刻劃誤差,可以按照()變換水平度盤位置削弱該誤差影響。
題型:單項選擇題
偽距測量缺點(diǎn)有時間不宜測準(zhǔn)和()
題型:單項選擇題
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中,一般使用()擦拭鏡片。
題型:單項選擇題
RTK測量的基本工作流程中,在至少()個公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
題型:單項選擇題
絕對定位定位精度為()。
題型:單項選擇題