問答題薄層掃描法方法學(xué)考察時(shí)作標(biāo)準(zhǔn)曲線的目的是什么？

參考答案： 檢查所選擇的散射參數(shù)SX是否適宜；考察標(biāo)準(zhǔn)曲線是否過原點(diǎn)，以便確定采用外標(biāo)一點(diǎn)法還是外標(biāo)二點(diǎn)法定量；確定點(diǎn)樣量的線性范圍...