單項(xiàng)選擇題DL/T821-2002規(guī)定,對外徑大于76mm且小于或等于89mm的管子,其焊縫采用雙壁雙投影法透照時(shí),應(yīng)()

A.分三次透照,兩次間隔120°
B.分倆次透照,兩次間隔90°
C.分四次透照,兩次間隔90°
D.不分段,允許一次橢圓成像透照


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1.單項(xiàng)選擇題Ir192的半衰期為()

A.5.3年
B.75天
C.130天
D.30年

2.單項(xiàng)選擇題與X射線相比,γ射線探傷優(yōu)點(diǎn)是()

A.設(shè)備簡單
B.設(shè)備體積小
C.不用電源
D.以上全部

3.單項(xiàng)選擇題圓形缺陷用評定框尺進(jìn)行評定,框尺的長邊應(yīng)()

A.與焊縫方向平行
B.與焊縫成任意角度
C.與焊縫方向垂直
D.以上均可

4.單項(xiàng)選擇題盛放顯影液的顯影槽不用時(shí)應(yīng)用蓋蓋好,這主要是為了()

A.防止藥液氧化
B.防止落進(jìn)灰塵
C.防止水分蒸發(fā)
D.防止溫度變化

5.單項(xiàng)選擇題在顯影過程中應(yīng)翻動膠片或攪動顯影液,其目的是()

A.保護(hù)膠片,使其免受過大壓力
B.使膠片表面的顯影液更新
C.使膠片表面上未曝光的銀粒子散開
D.防止產(chǎn)生網(wǎng)狀皺紋

最新試題

射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:單項(xiàng)選擇題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

檢測申請時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:單項(xiàng)選擇題

X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題