A.15mm
B.30mm
C.45mm
D.60mm
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A.可撓性
B.拉伸性
C.很高的硬度
D.任意
A.厚件
B.薄件
C.任何
D.任意
A.好
B.差
C.一樣
D.任意
A.6dB
B.相對(duì)靈敏度
C.絕對(duì)靈敏度
D.12dB
A.掃描電路
B.增輝電路
C.發(fā)射電路
D.接收電路
最新試題
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
衍射時(shí)差法探傷，當(dāng)有缺陷存在時(shí)，在直通波和底面反射波之間，接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會(huì)受到影響。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
由于圓柱形工件有一定的曲率，直探頭與工件直接接觸時(shí)，接觸面為一條很寬的條形區(qū)域，從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
在檢測晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流，在外加磁場的作用下，在工件中形成超聲波波源。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸，且探頭部分或全部門浸入耦合液中。