A.狹窄的磁滯回線
B.低磁導(dǎo)率
C.低矯頑力
D.A和C
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A.在高空野外作業(yè)宜用固定式探傷機(jī)
B.檢查厚鋼板宜用直流電磁軛
C.高光潔度工件宜采用支桿觸頭磁化
D.在無(wú)電源和易燃場(chǎng)合宜采用永久磁軛
A.僅僅是表面缺陷
B.僅僅是表面下的缺陷
C.表面和表面下的缺陷
D.內(nèi)部很深的缺陷
A.用通電法磁化
B.用線圈磁化
C.使電流通過(guò)置于工作中的導(dǎo)體
D.增加使用的安倍數(shù)
A.支桿法
B.磁軛法
C.線圈法
D.穿棒法
A.H=I/2πr2
B.H=I/2πr
C.H=Ir/2π
D.H=I/2πrR
最新試題
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí)，若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力，則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加，導(dǎo)致聲速減慢。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸，且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
對(duì)于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測(cè)量精確，實(shí)時(shí)成像，快速分析。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。