A.電解分析法
B.庫(kù)侖分析法
C.極譜分析法
D.離子選擇電極電位分析法
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A.殘余電流
B.擴(kuò)散電流
C.電容電流
D.遷移電流
A.極譜極大電流
B.遷移電流
C.殘余電流
D.殘留氧的還原電流
A.其大小與滴汞電位無(wú)關(guān)
B.其大小與被測(cè)離子的濃度有關(guān)
C.其大小主要與支持電解質(zhì)的濃度有關(guān)
D.其大小與滴汞的電位,滴汞的大小有關(guān)
A.通N2除溶液中的溶解氧
B.加入表面活性劑消除極譜極大
C.恒溫消除由于溫度變化產(chǎn)生的影響
D.在攪拌下進(jìn)行減小濃差極化的影響
A.線性掃描電壓,速度為200mV/min
B.線性掃描電壓,速度為200mV/s
C.線性掃描同時(shí)加上50~250Hz的方波電壓
D.線性掃描同時(shí)在每滴汞的后期加上一個(gè)4~80ms的方波電壓
最新試題
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型,它們分別是()。
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來(lái)分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來(lái)檢測(cè)。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。