A.X射線照相應盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應保證適當?shù)钠毓饬?/p>
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A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
A.滲透檢測質(zhì)量分級考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級既限定了單個缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評定框內(nèi)同時存在線性缺陷和圓形缺陷時,應進行綜合評級
A.干式顯像劑應對其比重進行經(jīng)常校驗
B.干式顯像劑應經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對工件無腐蝕
A.A型對比試塊A、B試塊上具有細密相對稱的裂紋圖形
B.A型對比試塊是淬火裂紋
C.B型試塊是輻射狀裂紋
D.B型試塊的材質(zhì)是鋁合金
最新試題
最容易發(fā)生康普頓效應的射線能量為()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準反射而進行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應大于()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
康普頓效應對射線檢測的影響包括()
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于()
一般認為表面波探測的有效深度約為()
影響較大的散射線通常來自()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()