問(wèn)答題為什么說(shuō)工件對(duì)比度是底片對(duì)比度的前提條件?
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對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
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