A.增益比
B.治療比
C.標(biāo)準(zhǔn)劑量比
D.參考劑量比
E.耐受比
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A.外照射射線源模擬
B.劑量儀響應(yīng)模擬
C.外照射時體模內(nèi)輻射場模擬及腔內(nèi)放療源周圍輻射場模擬
D.外照射治療計劃應(yīng)用
E.以上各項
A.電子束無明顯建成效應(yīng)
B.電子束的皮膚劑量較高
C.電子束的照射范圍平坦
D.電子束射程較短
E.電子束容易被散射
A.R85
B.E0
C.RP
D.Rq
E.Dm
A.CT/MRI的兩維信息造成定位失真
B.治療位置很難重復(fù)
C.劑量計算的精度不夠
D.沒有采用逆向算法,優(yōu)化設(shè)計困難
E.以上各項
A.葉片長度
B.葉片寬度
C.葉片高度
D.葉片形狀
E.葉片數(shù)目
最新試題
巴黎系統(tǒng)的插植規(guī)定所有的放射源的線比釋動能率相等。
利用圓形小野旋轉(zhuǎn)集束照射是X(γ)射線SRT(SRS)的基本特征。
帶電粒子入射到物體時,沒有確定的射程。
電磁掃描調(diào)強不僅具有X 射線光子的利用率高、治療時間短的優(yōu)點,而且可實現(xiàn)電子束、質(zhì)子束的調(diào)強治療。
實際患者治療時,無環(huán)重定位技術(shù)的靶點位置總的治療精度稍劣于有環(huán)技術(shù)。
射線能量越高,百分深度劑量隨射野面積的改變越小。
質(zhì)子束的優(yōu)勢在于布拉格峰形百分深度劑量分布。
光電效應(yīng)時入射X(γ)光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級電子動能,另一部分為特征X 射線能量。
α/β不僅代表了細(xì)胞存活曲線的曲度,也代表了細(xì)胞對亞致死損傷的修復(fù)能力。
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。