A.致死損傷
B.早期損傷
C.晚期損傷
D.亞致死損傷
E.潛在致死損傷
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A.G1期
B.G2期
C.M期
D.N期
E.S期
A.12.5°偏轉(zhuǎn)
B.45°偏轉(zhuǎn)
C.90°偏轉(zhuǎn)
D.112.5°(滑雪式)偏轉(zhuǎn)
E.270°(消色散)偏轉(zhuǎn)
A.原射電子的反向散射
B.電子束的小角度多級(jí)散射
C.不規(guī)則射野輸出因子的計(jì)算
D.斜入射對(duì)劑量影響的處理需進(jìn)一步完善
E.高能次級(jí)電子在不均勻組織中的劑量計(jì)算
A.均整器
B.X射線靶
C.初級(jí)準(zhǔn)直器
D.二級(jí)準(zhǔn)直器
E.監(jiān)測(cè)電離室
A.前者可考慮計(jì)算點(diǎn)位置不均勻組織的厚度,而后者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀
B.前者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀,而后者可考慮計(jì)算點(diǎn)所位置不均勻組織的厚度
C.前者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面及相鄰層面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀,而后者可考慮計(jì)算點(diǎn)位置不均勻組織的厚度
D.前者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀,而后者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面及相鄰層面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀
E.前者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面及相鄰層面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀,而后者可考慮計(jì)算點(diǎn)所在平面內(nèi)不均勻組織的實(shí)際形狀
最新試題
對(duì)射野輸出劑量的檢測(cè)頻率,加速器高于鈷60機(jī)。
電離室型劑量?jī)x在每次測(cè)量前必需對(duì)氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
LET=()Kev/μm 是高低LET 射線的分界線。
檢查燈光野與射野的一致性通常用膠片法。
對(duì)加速器射野的對(duì)稱性和平坦度的檢查應(yīng)每月兩次。
等效射野指的是通過(guò)計(jì)算換算后的方形野。
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。
對(duì)鈷60機(jī)射野的對(duì)稱性和平坦度的檢查應(yīng)每月一次。
“4R”描述的是影響腫瘤和正常組織的輻射生物效應(yīng)因素。
巴黎系統(tǒng)的插植規(guī)定所有的放射源的線比釋動(dòng)能率相等。