A.400nm～750nm
B.200nm～400nm
C.200nm～600nm
D.360nm～800nm
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電噴霧電離源適用于強(qiáng)極性、不穩(wěn)定、難揮發(fā)、大分子量的樣品分析。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起，可設(shè)法消除。
在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過(guò)化學(xué)分離，使用高溫火焰，加入釋放劑和保護(hù)劑，加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來(lái)克服。
石墨管式原子化器的檢測(cè)限比火焰原子化器高，注入的試樣幾乎可全部原子化，基態(tài)原子在光路中停留的時(shí)間短。
氣-液氣相色譜分離試樣的過(guò)程是試樣中各組分在流動(dòng)相與固定液上的分配和再分配的多次反復(fù)。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物的色譜峰必須與各個(gè)組分的色譜峰完全分離。
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì)，還能提供原子或離子來(lái)源的分子信息。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
色譜流出曲線圖是將待分離組分經(jīng)過(guò)色譜柱的分離后進(jìn)入檢測(cè)器，以檢測(cè)器檢測(cè)到的響應(yīng)信號(hào)為橫坐標(biāo)，時(shí)間或流動(dòng)相的體積為縱坐標(biāo)所得的曲線圖。