A.曲線的最大斜率點(diǎn)；
B.曲線的最小斜率點(diǎn)；
C.E為最正值的點(diǎn)；
D.E為最負(fù)值的點(diǎn)。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.估計(jì)電極的檢測(cè)限；
B.估計(jì)共存離子的干擾程度；
C.校正方法誤差；
D.估計(jì)電極的線性響應(yīng)范圍。
對(duì)氟離子選擇性電極造成干擾的離子是（）
A.A
B.B
C.C
D.D
A.電極對(duì)主測(cè)離子的選擇性越好
B.電極對(duì)主測(cè)離子的選擇性越低
C.電極對(duì)干擾離子的選擇性越好
D.電極對(duì)干擾離子的響應(yīng)能力越好
A.避免存儲(chǔ)效應(yīng)（遲滯效應(yīng)或記憶效應(yīng)）；
B.消除電位不穩(wěn)定性；
C.清洗電極；
D.提高靈敏度。
A.被測(cè)離子與共存離子的遷移速度；
B.被測(cè)離子與共存離子的電荷數(shù)；
C.共存離子在電極上參與響應(yīng)的敏感程度；
D.共存離子與晶體膜中的晶格離子形成微溶性鹽的溶解度或絡(luò)合物的穩(wěn)定性。
最新試題
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
分子內(nèi)各種官能團(tuán)的特征吸收峰只出現(xiàn)在紅外光波譜的一定范圍。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物加入量可以隨意加入。
軟電離離子化能量高，分子離子的碎片信息豐富，提供的分子官能團(tuán)等結(jié)構(gòu)信息。
氣相色譜法中氣固色譜是遵循分配原理，而氣液色譜是遵循吸附原理。
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì)，還能提供原子或離子來(lái)源的分子信息。
在AAS測(cè)試中，火焰原子化時(shí)，通常通過(guò)調(diào)節(jié)燃燒器高度來(lái)控制光束通過(guò)火焰的電離、化合區(qū)域。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物的色譜峰必須與各個(gè)組分的色譜峰完全分離。
質(zhì)譜儀中真空系統(tǒng)的作用是使離子在真空狀態(tài)下從離子源到達(dá)檢測(cè)器。