A、特殊原因
B、普通原因
C、A+B
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A、P和np圖
B、C和u圖
D、C和np圖
A、正態(tài)分布、產(chǎn)品合格、過程受控
B、產(chǎn)品合格,人員經(jīng)過培訓(xùn)
C、產(chǎn)品合格,過程受控、人員經(jīng)過程培訓(xùn)
A、不是始終作用于過程
B、改變分布式
C、使分布穩(wěn)定且可重復(fù)
A、建立控制圖、分析控制圖、制定措施
B、分析過程、維護過程、改進過程
C、建立控制圖、分析控制圖、改進過程
A、波型與波峰
B、寬度及位置
C、發(fā)生的時間及頻率
最新試題
在繪制控制圖時,不管采取何種方法,均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控,否則不能計算過程能力。
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
σ
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個點落在中心線同一側(cè)時,說明過程處于()
做初始能力研究時,Cp大于1.33,這臺機器能力可以接受了。
當(dāng)控制計劃要求對相關(guān)工序尺寸進行SPC統(tǒng)計過程控制時,公司相關(guān)部門進行圖控制并進行過程能力研究。
特殊特性
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較,而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進行控制,為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
第Ⅰ類錯誤
Ppk(性能指數(shù),即初期過程的性能指數(shù))