A.組內(nèi)變異小,組間變異大
B.組內(nèi)變異大,組間變異小
C.組內(nèi)變異和組間變異相同
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A.局部措施
B.系統(tǒng)措施
C.普通措施
A.4.5,5.1,5.7
B.4.4,5.0,5.6
C.4.5,5.0,5.5
A.20
B.25
C.30
A.+/-2σ
B.+/-3σ
C.+/-4σ
A.P圖,NP圖,X-R圖,C圖
B.P圖,NP圖,X-R圖,U圖
C.P圖,NP圖,C圖,U圖
最新試題
當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點(diǎn)上升或下降時(shí),說明過程處于()
當(dāng)過程能力不足時(shí),為提高過程能力,應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
PPM(質(zhì)量水準(zhǔn),即每百萬零件不合格數(shù))
沒有超出控制界限的點(diǎn),過程能力是可接受的。
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較,而以時(shí)間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
做初始能力研究時(shí),Cp大于1.33,這臺機(jī)器能力可以接受了。
過程(Process)
重要過程事件(如工具變更,機(jī)器修理等)須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。
在“3σ”原則下,控制點(diǎn)落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是()