判斷題軸類工件外圓面徑向探傷時(shí)，曲底面的回波聲壓與同聲程大平底面相同。
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標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。
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測定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。
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橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。
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串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。
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單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。
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盲區(qū)與始波寬度是同一概念。
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與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。
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脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
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縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。
題型：判斷題
所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。
題型：判斷題