判斷題材料的磁導(dǎo)率μ不是常數(shù)，是隨磁場大小不同而改變的變量。
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最新試題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。
題型：判斷題
退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場使其達到無磁狀態(tài)的過程。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標準試片。
題型：判斷題
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應(yīng)用2～10倍放大鏡進行觀察。
題型：判斷題
磁場指示器是用于被檢工件表面磁場方向，有效檢測區(qū)及磁化方法是否正確的一種準確的校驗工具。
題型：判斷題
用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。
題型：判斷題
相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定的水斷試驗，主要是用來檢驗水磁懸液對被檢表面的潤濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水斷”表面，才可以開始磁粉檢測。
題型：判斷題