A.在裸眼井和套管井內(nèi)均可測(cè)量
B.特別適用于低阻油層地層測(cè)量
C.在油基、水基鉆井液中均可測(cè)量
D.是化學(xué)巖沉積剖面中不可缺少的測(cè)井方法
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A.滑行波
B.反射波
C.折射波
D.透射波
A.巖性
B.孔隙度
C.導(dǎo)電性
D.壓實(shí)程度
A.儲(chǔ)集層
B.空氣
C.孔隙度
D.地層
A.中靈敏度、快速型
B.中靈敏度、延時(shí)型
C.高靈敏度、快速型
D.高靈敏度、延時(shí)型
A.中性點(diǎn)接地
B.中性點(diǎn)不接地
C.任何形式的三相四線制
最新試題
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
常規(guī)測(cè)井評(píng)價(jià)復(fù)雜巖性儲(chǔ)層存在的難點(diǎn)有哪些?
微電阻率電成像反映地層特征(裂縫、溶洞、層界面等)清晰,與聲成像具有()。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
在相同的外加磁場(chǎng)中,不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率()。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小,分辨率(),井壁電阻率掃描圖像越清晰。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
核磁共振測(cè)井時(shí),當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差()10%。