A.柱形
B.鐘形
C.漏斗形
D.箱形
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A.正差異
B.負(fù)差異
C.負(fù)異常
D.正異常
A.負(fù)異常
B.正異常
C.無(wú)明顯異常
D.漏斗狀
A.正差異
B.負(fù)差異
C.負(fù)異常
D.正異常
A.不一定都有偏離
B.接近
C.相交
D.重合
A.擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)
B.擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)
C.過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)
D.吸附電動(dòng)勢(shì)
最新試題
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
微電阻率成像三井徑曲線變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么?
常規(guī)測(cè)井評(píng)價(jià)復(fù)雜巖性儲(chǔ)層存在的難點(diǎn)有哪些?
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和()等特征參數(shù)。
微電阻率電成像反映地層特征(裂縫、溶洞、層界面等)清晰,與聲成像具有()。
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。