A.變密度測(cè)井
B.噪聲測(cè)井
C.全波列聲波
D.補(bǔ)償聲波
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A.聲速測(cè)井和聲波時(shí)差測(cè)井
B.聲波幅度測(cè)井和聲波頻率測(cè)井
C.聲速測(cè)井和聲幅測(cè)井
D.聲速測(cè)井和聲波頻率測(cè)井
A.切變模量
B.泊松比
C.體積模量
D.楊氏模量
A.巖性
B.地質(zhì)年代
C.埋藏深度
D.電阻率
A.縱波
B.橫波
C.面波
D.反射波
A.縱波
B.橫波
C.面波
D.反射波
最新試題
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么？
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變，當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)（）橫向弛豫時(shí)。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
核磁共振測(cè)井時(shí)，當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差（）10%。