單項(xiàng)選擇題（）測井儀進(jìn)套管時(shí)有一屏蔽尖，此為測量的套管鞋深度。
A.補(bǔ)償中子
B.微電極
C.2.5m底部梯度
D.井徑
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1.單項(xiàng)選擇題測井曲線確定的技術(shù)套管深度與技術(shù)套管的允許測量誤差為（）。
A.技套深度的3%
B.技套深度的1%
C.技套深度的0.5%
D.技套深度的2%
2.單項(xiàng)選擇題不能用作套管深度檢查的是（）曲線。
A.補(bǔ)償中子
B.井徑
C.2.5m底部梯度
D.微球聚焦電阻率
3.單項(xiàng)選擇題校深后的測井曲線與基準(zhǔn)曲線的深度誤差不能超過（）m。
A.0.5
B.0.3
C.0.6
D.1
4.單項(xiàng)選擇題測井電纜的深度按規(guī)定應(yīng)每（）m做一個(gè)深度記號，每（）m做一個(gè)特殊記號，電纜零長用丈量數(shù)據(jù)。
A.25，100
B.50，200
C.25，250
D.25，500
5.單項(xiàng)選擇題幾種儀器組合測井時(shí)，同次測量的各條曲線深度誤差不超過（）m。
A.0.5
B.0.2
C.0.8
D.2
最新試題
超聲波成像測井的影響因素為工作頻率、（）、測量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
題型：單項(xiàng)選擇題
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
VSP 測井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。
題型：單項(xiàng)選擇題
簡述VSP 測井影響因素。
題型：問答題
微電阻率成像測井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些？
題型：問答題
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測量值的絕對誤差小于（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。
題型：單項(xiàng)選擇題
核磁共振測井時(shí)，當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測量值的相對誤差（）10%。
題型：單項(xiàng)選擇題