單項(xiàng)選擇題室內(nèi)解釋人員一般進(jìn)行的深度校正不包括（）的校正。

A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.水平井垂直深度


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1.單項(xiàng)選擇題水平井的校正與（）的校正比較接近。

A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.絕對(duì)—相對(duì)深度

2.單項(xiàng)選擇題測(cè)井曲線的深度校正內(nèi)容不包括的（）的校正。

A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.自動(dòng)深度

3.單項(xiàng)選擇題測(cè)井曲線的深度校正內(nèi)容包括（）和斜井垂直深度的校正。

A.絕對(duì)深度、相對(duì)深度
B.人工深度
C.儀器的深度
D.相對(duì)深度

4.單項(xiàng)選擇題不會(huì)造成測(cè)井深度差異的因素是（）。

A.各次測(cè)量電纜受力不同
B.井口置零不當(dāng)
C.探測(cè)儀記錄點(diǎn)的深度延遲計(jì)算有誤
D.各種測(cè)井曲線的測(cè)量原理不同

5.單項(xiàng)選擇題測(cè)井過程中，各次測(cè)量的曲線經(jīng)常在深度產(chǎn)生不同程度的相對(duì)錯(cuò)動(dòng)，其原因不包括（）。

A.下井儀器的重量
B.儀器與井壁的接觸狀態(tài)
C.測(cè)速
D.儀器的工作狀態(tài)

最新試題

在相同的外加磁場(chǎng)中，不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

孔隙充滿液體的較純砂巖地層：核磁（）近似等于密度/中子交會(huì)孔隙度。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變，當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)（）橫向弛豫時(shí)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題