A.有效孔隙
B.微孔隙
C.無效孔隙
D.次生孔隙
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A.一定壓力
B.自然條件
C.一定溫度
D.一定壓差
A.大于0.0002
B.大于0.0001
C.大于0.0003
D.小于0.0002
A.總孔隙和有效孔隙
B.原生孔隙和次生孔隙
C.有效孔隙和無效孔隙
D.有效孔隙和微孔隙
A.大于0.5,大于0.25
B.小于0.0002,小于0.0001
C.小于0.002,小于0.001
D.小于0.001,小于0.0002
A.超毛細(xì)管孔隙、微孔隙、毛細(xì)管孔隙
B.超毛細(xì)管孔隙、微孔隙、微毛細(xì)管孔隙
C.超毛細(xì)管孔隙、毛細(xì)管孔隙、微毛細(xì)管孔隙
最新試題
微電阻率成像測(cè)井無效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過()。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)()。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變,當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)()橫向弛豫時(shí)。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么?
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。