A.套管變形
B.套管腐蝕
C.套管磨損
D.套管積蠟
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A.最大井徑大于最小井徑
B.最大井徑小于最小井徑
C.最大井徑等于最小井徑
D.最大井徑不等于最小井徑
A.最大半徑小于套管標(biāo)稱半徑
B.最大半徑大于套管標(biāo)稱半徑
C.最小半徑小于套管標(biāo)稱半徑
D.最小半徑大于套管標(biāo)稱半徑
A.套管標(biāo)稱半徑小于最大半徑,最小半徑小于標(biāo)稱半徑
B.套管標(biāo)稱半徑小于最大半徑,而最小半徑大于標(biāo)稱半徑
C.套管標(biāo)稱半徑大于最大半徑,而最小半徑小于標(biāo)稱半徑
D.套管標(biāo)稱半徑大于最大半徑,而最小半徑大于標(biāo)稱半徑
A.最大半徑變大,最小半徑變小
B.最大半徑變大,最小半徑變大
C.最大半徑變小,最小半徑變小
D.最大半徑變小,最小半徑變大
A.油井在同一工作制度下,三天內(nèi)產(chǎn)量波動(dòng)不超過(guò)5%
B.兩次測(cè)得的流動(dòng)壓力波動(dòng)不超過(guò)1atm
C.油井在作業(yè)、修井狀態(tài)下
D.采油指數(shù)變化不超過(guò)15%
最新試題
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小,分辨率(),井壁電阻率掃描圖像越清晰。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變,當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)()橫向弛豫時(shí)。
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。