A.運(yùn)算器、軟件系統(tǒng)
B.硬件系統(tǒng)、軟件系統(tǒng)
C.控制器、存儲(chǔ)器
D.輸入、輸出設(shè)備
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最新試題
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí),沉積范圍逐漸擴(kuò)大,較新沉積層覆蓋了較老沉積層,并向陸地?cái)U(kuò)展,與更老的地層侵蝕面成不整合接觸,在柱狀剖面上,表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征,這種現(xiàn)象稱為()。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些?
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性,觀測(cè)地層流體中的()。
在()的概念中,沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是:沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素,沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。
在相同的外加磁場(chǎng)中,不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率()。