A.I=P/2Z
B.I=P2/Z2
C.I=P2/2Z
D.I=P2/4Z
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A.聲壓
B.聲強(qiáng)
C.聲能
A.聲壓
B.聲強(qiáng)
C.聲能
A.介質(zhì)厚度有限
B.介質(zhì)厚度等于半波長(zhǎng)
C.介質(zhì)厚度為半波長(zhǎng)的整數(shù)倍
D.以上都是
A.疊加
B.干涉
C.駐波
D.以上都不是
A.波振面
B.波前
C.波線(xiàn)
D.以上都不是
最新試題
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
單探頭法容易檢出（）。