A.泥質(zhì)的影響
B.刻度的不精確性
C.泥漿的影響
D.擴(kuò)徑的影響
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A.之后
B.之前
C.過程中
D.可以代替
A.理想的地質(zhì)構(gòu)造
B.系統(tǒng)的取心資料
C.相對(duì)完善的測(cè)井系列
D.不利的測(cè)量環(huán)境
A.處于儲(chǔ)層的尖滅部位
B.處在構(gòu)造的次要部位
C.處在構(gòu)造的主要部位
D.具有高產(chǎn)油氣流的井區(qū)
A.斜井
B.井眼規(guī)則
C.直井
D.泥漿性能符合要求
A.一口
B.兩口
C.三口
D.相當(dāng)數(shù)量
最新試題
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。
微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。
當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
（）古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭，潛山本身就是一個(gè)背斜。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。
在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。
微電阻率成像測(cè)井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。