下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）
A.A
B.B
C.C
D.D
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A.可靠性實(shí)驗(yàn)是實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)
B.環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)不能提高產(chǎn)品固有可靠性，但通過改進(jìn)設(shè)計(jì)和工藝等可以提高產(chǎn)品的可靠性水平
C.可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)是通過發(fā)現(xiàn)故障、分析和糾正故障以及對(duì)糾正措施的有效性而進(jìn)行驗(yàn)證以提高產(chǎn)品可靠性水平的過程
D.可靠性測(cè)定試驗(yàn)的目的是通過試驗(yàn)測(cè)定產(chǎn)品的可靠性水平
A.40小時(shí)
B.133小時(shí)
C.150小時(shí)
D.100小時(shí)
A.e-0.05
B.e-0.01
C.e-0.02
D.e-0.001
最新試題
故障樹分析是用一系列（）和轉(zhuǎn)移符號(hào)描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。
對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí)，母體的合格率不達(dá)標(biāo)，子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)
我們之所以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)判與分配，是因?yàn)楫a(chǎn)品的可靠性高低取決于其本身而不是論證。
一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）
什么是失效？什么是失效模式？研究產(chǎn)品失效的方法主要有哪幾種？
下圖為典型產(chǎn)品的故障率曲線，試說明各階段的產(chǎn)品失效原因。
抽樣的兩類風(fēng)險(xiǎn)分別是什么？
已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時(shí)，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計(jì)該系統(tǒng)工作100小時(shí)的可靠度。
設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計(jì)發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）
圖（a）、（b）兩部分是等價(jià)的嗎？當(dāng)表決器可靠度為1，組成單元的故障率均為常值λ時(shí)，請(qǐng)推導(dǎo)出三中取二系統(tǒng)的可靠度和MTBCF表達(dá)式。