A.縮小公差
B.減少偏離量
C.降低離散度
D.適當加大公差
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A.合理確定取樣間隔
B.合理確定子樣容量
C.子樣組數(shù)最好大于25
D.剔除不明原因的異常數(shù)據
A.強調統(tǒng)計分析
B.強調預防為主
C.強調全員參與
D.強調全檢
A.點子出界
B.環(huán)境改變
C.人員和設備均變動
D.改變工藝參數(shù)或采用新工藝
E.更換供應商或更換原材料、零部件
A.分析生產過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)
B.分析該過程的過程能力指數(shù)是否滿足要求
C.計算過程的不合格品率
D.計算過程的偏移系數(shù)
A.X控制圖
B.np控制圖
C.p控制圖
D.c控制圖
E.u控制圖
最新試題
正確使用統(tǒng)計技術，能達到早期預防或及時提出矯正措施并得以及時改善的目的。
所有的特殊特性均應使用統(tǒng)計過程控制。
Cpk（穩(wěn)定過程的能力指數(shù)）
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
因為X（bar）-R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢更強，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
沒有超出控制界限的點，過程能力是可接受的。
SPC
當過程能力不足時，為提高過程能力，應進一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運用于生產過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產品質量特性與依過去經驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進行控制，為統(tǒng)計質量管理奠定了理論和方法基礎。
第Ⅰ類錯誤