A.選擇試驗(yàn)
B.帥選試驗(yàn)
C.環(huán)境試驗(yàn)
D.壽命試驗(yàn)
E.隨機(jī)試驗(yàn)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.最大割集法
B.最小割集法
C.系統(tǒng)薄弱環(huán)節(jié)分析
D.系統(tǒng)強(qiáng)勢環(huán)節(jié)分析
E.系統(tǒng)割集法
A.列表開始
B.逐級(jí)置換
C.列表方法
D.化簡
E.列表結(jié)束
A.上行法
B.分析法
C.誤差法
D.下行法
E.失效法
A.定性
B.定速
C.定量
D.等誤差
E.定位
A.失效模式影響分析
B.嚴(yán)重度分析
C.一般性分析
D.次要性分析
E.致命性分析
最新試題
可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）
什么是失效？什么是失效模式？研究產(chǎn)品失效的方法主要有哪幾種？
工程中常用的失效分布類型有：（）、（）和（）
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）
采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）
設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計(jì)發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的（）
抽樣的兩類風(fēng)險(xiǎn)分別是什么？
在嚴(yán)重度矩陣中以（）作為橫坐標(biāo)，以（）為縱坐標(biāo)。